Тут считать надо: вероятность отказа по питанию в эти самые 150
псек сравнить с вероятностью износа ячеек EEPROM. Можно продумать
подробней, что с чем сравнивать, но, имхо, ответ не совсем
однозначен. PS: Если в приборе КЗ, то битая память часто уже не
основная проблема.