Я бы да. Объём, плотность данных не малые, а скорость чтения -
небольшая. Периодически, даже время теста накопитель должен делать
перекалибровки механики, чтобы отследить изменения по ходу прогрева
или изменения внешних условий работы. Отсюда и немного больших задержек. Главное, чтобы после таких задержек, не рос счётчик ошибок чтения или перемещённых секторов.