Твое утверждение про "нет метода" - относится к оценке DriveLevel ?
Оно конечно зависит напрямую от обвязки кварца, от самого
генератора (forward transconductance - которое в даташите имеет
диапазон от 5 до 25мА/В), ну и от диапазона параметров самого
кварца (ESR и т.д.). Обвязка кварца считается однозначно (для достижения CL кварца). Потом уже - с этой обвязкой измеряется DriveLevel - причем это конечно делается на конкретном кварце (с конкретным ESR) и на конкретном МК (с конкретным forward transconductance). Для других экземпляров МК и кварцев DriveLevel получится другой. Тут действительно "нет метода".
Я там выше (про DriveLevel) только предложил простой способ измерения. Подбирается внешний резистор настолько большой, насколько позволяет рассчет (без срыва генерации). И с этим резистором уже измеряется DriveLevel. Если он получился с N-кратным запасом - то в зависимости от N - можно внешний резистор уменьшить. Но я сторонник того, чтобы он был максимально большим, чем больше запас по DriveLevel - тем лучше.