Теория и практика ПП производства очень сильно прогрессировали с
тех времен. Сейчас wafer едет на метрологию после каждого этапа
производства и любое отклонение можно поймать и скорректировать.
Причем все это без какого нибудь вмешательства кожаных мешков - в
микроскоп тетки в белых халатах давно не смотрят.