vmp (06.05.2005 10:01, просмотров: 1) ответил Snaky на Представил. Если бы я считал свой тест оптимальным я бы не задавал вопрос. :>
Просто при создании теста нужно представлять, какие неисправности он ловит, а какие - нет. Обрыв или замыкание дорожки - это относительно частая неисправность, ее нужно проверить обязательно. Залипание одного бита в кристалле - реже, но бывает. Мой тест например не выявит замыкание между двумя битами внутри кристалла. Или утечки внутри кристалла (искажение данных при длительном хранении). Также он не проверяет помехи при переключении (для этого делается последовательная запись и чтение 00/FF).
По хорошему, на одном из экземпляров устройства надо прогнать все тесты (особенно на помехи), а при работе (включении питания) достаточно короткого теста типа приведенного мной.