-
- Эти факторы для "толстопроводниковых" МК практически безвредны. Ячейка быстрее потеряет заряд от утечки, чем электромиграция разрушит проводник. А вообще с ними борятся на уровне проектирования микросхем: топологией, материалами проводников testerplus(102 знак., 06.09.2012 14:37)
- Мерси! - PlainUser(10.09.2012 08:20)
- Эти факторы для "толстопроводниковых" МК практически безвредны. Ячейка быстрее потеряет заряд от утечки, чем электромиграция разрушит проводник. А вообще с ними борятся на уровне проектирования микросхем: топологией, материалами проводников testerplus(102 знак., 06.09.2012 14:37)