при разработке модуля интель нарушил DFT rules - альфу и, простите, омегу разработки чипов (ну интель они крутые, им можно) сканы они наверняка не ставят, ну а то что не предусмотрели тестирование выхода промежуточной ступени генератора - ктож не ошибается. а в статье я так и не понял - кто дал возможность малопонятным людям повредить маску? или они на симуляторе замкнули на землю транзистор и гарантии, что интел своими тестами такой чип не выбракует у них нет (это stuck-at fault - стандартная технологическая ошибка производства и должно (ну с некой 0.99 вероятностью) тестами обнаруживаться