ВходНаше всё Теги codebook 无线电组件 Поиск Опросы Закон Среда
24 декабря
О смысле всего сущего0xFF Средства и методы разработки Мобильная и беспроводная связь Блошиный рынокОбъявления
МикроконтроллерыPLD, FPGA, DSP AVRPICARM, RISC-VТехнологии Кибернетика, автоматика, протоколы Схемы, платы, компоненты
610748 Топик полностью
Make_Pic (23.07.2015 13:30, просмотров: 129) ответил Make_Pic на НЕ проще ли делать подобные испытания в серт. лабе?
Если не поняли - пробой при токе в доли ма и 150мадля 30кВ разные последствия вызывает