Вход
Наше всё
Теги
codebook
无线电组件
Поиск
Опросы
Закон
Вторник
26 ноября
О смысле всего сущего
0xFF
Средства и методы разработки
Мобильная и беспроводная связь
Блошиный рынок
Объявления
Микроконтроллеры
PLD, FPGA, DSP
AVR
PIC
ARM, RISC-V
Технологии
Кибернетика, автоматика, протоколы
Схемы, платы, компоненты
Схемы, платы, компоненты
610748
Топик полностью
Make_Pic
(23.07.2015 13:30, просмотров: 67)
ответил
Make_Pic
на
НЕ проще ли делать подобные испытания в серт. лабе?
Если не поняли - пробой при токе в доли ма и 150мадля 30кВ разные последствия вызывает
Ответить
я еще понял бы на переменке емкостные утечки, но 150 мА на постоянке...
-
lexxx-lexxx
(23.07.2015 13:55
)