caxapa.ru :: Я просто не пробовал писать тесты на С... IMHO тесты по максимуму (+)

SM (11.02.2004 15:21, просмотров: 1) ответил Aлeкceй Mycин на В тесте используются локальные переменные

Я просто не пробовал писать тесты на С... IMHO тесты по максимуму (+) не должны использовать того, чего сами еще не протестировали. У меня принцип такой: Сначала тест регистров проца и какой-то части команд, затем, юзая только регистры, проверка CRC прошивки. Затем тест внутреннего ОЗУ. И только потом можно юзать стек.

- А можно поподробнее про тест регистров и команд? Алексей Мусин(133 знак., 12.02.2004 07:35)
  - Ответ: SM(905 знак., 12.02.2004 16:36)
    - Да, а случаев (полно) SM(152 знак., 12.02.2004 16:37)
      - Солидно Алексей Мусин(215 знак., 13.02.2004 08:05)
        
        Во первых SM(455 знак., 13.02.2004 10:34)
        
        в себестоимости МСХ до 70% - тесты(от пластины до девайса) причём последние - самые дорогие(первые-групповые, последние - каждое изделие) - =mse=(13.02.2004 11:57)
        
        Не угадал SM(650 знак., 13.02.2004 12:19)
        
        ну да, как-же ;О) а толщину плёнок, глубину диффузии, толщину и проводимость эпитаксиальных слоёв, подвижность носителей.......... на каждый кристалл тоже? ;О). На каждой пластине есть 4-10 тестовых областей на которых в процессе производства пластины про =mse=(210 знак., 14.02.2004 11:55)
        
        Дык это не те тесты, о которых тут речь :) - SM(16.02.2004 08:59)

Микроконтроллеры