Вход
Наше всё
Теги
codebook
无线电组件
Поиск
Опросы
Закон
Вторник
26 ноября
О смысле всего сущего
0xFF
Средства и методы разработки
Мобильная и беспроводная связь
Блошиный рынок
Объявления
Микроконтроллеры
PLD, FPGA, DSP
AVR
PIC
ARM, RISC-V
Технологии
Кибернетика, автоматика, протоколы
Схемы, платы, компоненты
ARM, RISC-V контроллеры
782359
Топик полностью
Шаманъ
(23.09.2017 15:56, просмотров: 116)
ответил
Ruslan
на
Почему спрашивал - были похожие проблемы, нашил замыкание на плате.
А здесь обрыв. Самое интересно распространенные тесты памяти/шины проходили "на ура", а обрыв был в линии NBL_1 - никогда бы не подумал, что он может такое влияние оказывать...
Ответить
О чем это говорит? О "высоком" качестве тестов :) NBL - это выборка верхнее
Hives
(81 знак., 23.09.2017 21:05
,
)
Да выборка "верхнего" байта (память 16бит). Тесты работали со словами, DMA2D тоже со словами работает, но висящая в воздухе линия это источник самых непредсказуемых глюков.
-
Шаманъ
(24.09.2017 15:06
)