Вход
Наше всё
Теги
codebook
无线电组件
Поиск
Опросы
Закон
Вторник
26 ноября
О смысле всего сущего
0xFF
Средства и методы разработки
Мобильная и беспроводная связь
Блошиный рынок
Объявления
Микроконтроллеры
PLD, FPGA, DSP
AVR
PIC
ARM, RISC-V
Технологии
Кибернетика, автоматика, протоколы
Схемы, платы, компоненты
ARM, RISC-V контроллеры
782474
Топик полностью
Hives
(23.09.2017 21:05, просмотров: 1)
ответил
Шаманъ
на
А здесь обрыв. Самое интересно распространенные тесты памяти/шины проходили "на ура", а обрыв был в линии NBL_1 - никогда бы не подумал, что он может такое влияние оказывать...
О чем это говорит? О "высоком" качестве тестов :) NBL - это выборка верхнее
/нижнее слово/байт, что-ли? обычные тесты линии управления не часто проверяют...
Да выборка "верхнего" байта (память 16бит). Тесты работали со словами, DMA2D тоже со словами работает, но висящая в воздухе линия это источник самых непредсказуемых глюков.
-
Шаманъ
(24.09.2017 15:06
)