ВходНаше всё Теги codebook 无线电组件 Поиск Опросы Закон Суббота
23 ноября
О смысле всего сущего0xFF Средства и методы разработки Мобильная и беспроводная связь Блошиный рынокОбъявления
МикроконтроллерыPLD, FPGA, DSP AVRPICARM, RISC-VТехнологии Кибернетика, автоматика, протоколы Схемы, платы, компоненты
8713 Топик полностью
General (20.03.2004 21:40, просмотров: 1) ответил General на Разговор шел о том, что у МК, в отличии от статистической вероятности выхода из строя резистора, есть еще некоторые дополнительные внутренние факторы в виде ненадежности ПО и даже самого механизма выполнения ПО. Выстрел в голову, в отличие от выстрела в
Так вот, ненадежность резистора заранее известна и на нее можно рассчитывать. Аналогично, каким образом проектировать МК-устройства с известной ненадежностью?