ARM, RISC-V контроллеры

Тест внешней SDRAM. Проблема. К LPC2468 подключена внешняя SDRAM MT48LC2M32B2 (512K x 32 x 4 banks). Она тестируется неким тестом, причем тест довольно тривиальный: во все ячейки (32бита), начиная с нулевой, записывается адрес этой ячейки, потом считаваются и проверяются, далее записывается инверсный адрес и проверяется; затем во все ячейки, но только начиная с последнего адреса до нулевого производится то же самое. Теперь проблема: данный тест не дает стопроцентного результата, т.е. на одной плате тест может проходить раза 3 из 10, на другой может 10 из 10, на другой 9 из 10 и тд. А может вообще не проходить 2 раза из 50 тестов, причем не проходит где то в середине на 30 тесте. Понимаю, что нет теста, дающего стопроцентного результата, но может кто сталкивался с такими проблемами, поделитесь алгоритмом или может подскажете хотя бы куда копать: тайминги там, дорожки... Спасибо.