Shura (25.01.2010 15:57, просмотров: 144) ответил Evgeny_CD на Интересно посмотреть, как эти параметры деградируют на уровне платы. Компук из RAD750 -> Radiation-hardness – Total dose: >100 Krad (Si) – SEU: 1.9 E-4 errors/card-day не хило так 6 порядков растеряли.-
- Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо... - Evgeny_CD(25.01.2010 16:18)
- Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
- Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
- А зачем все одновременно тестировать? Можно спокойно по частям протестить и просчитать потом суммарную вероятность. - Shura(25.01.2010 16:35)
- Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
- Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
- Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо... - Evgeny_CD(25.01.2010 16:18)