Вход Наше всё Теги codebook 无线电组件 Поиск Опросы Закон Вторник
10 июня

О смысле всего сущего 0xFF Средства и методы разработки Мобильная и беспроводная связь Блошиный рынок Объявления

Микроконтроллеры PLD, FPGA, DSP AVR PIC ARM, RISC-V Технологии Кибернетика, автоматика, протоколы Схемы, платы, компоненты

Средства и методы разработки

179377 Топик полностью

Evgeny_CD^{Архитектор} (25.01.2010 16:18, просмотров: 175) ответил Shura на Это вполне ебстественно. Массив из нескольких плат ещё несколько порядков SEU потеряет.

Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо...

Ответить

- Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
  - Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
    - А зачем все одновременно тестировать? Можно спокойно по частям протестить и просчитать потом суммарную вероятность. - Shura(25.01.2010 16:35)
      - Я как представил себе сложность программы, которая проверяет монотонность счета всех таймеров (не перескочили ли они какое состояние), правильность всех регистров UART (а вот этот флаг ошибки - он по делу взвелся или нет) и т.д. - чет даже понять не Evgeny_CD(27 знак., 25.01.2010 17:09)
        
        Да там как правило довольно тупые программы, которые просто пишут определенные значения в ОЗУ и SFR а потом сличают их в цикле. - Shura(25.01.2010 17:24)