-=Sergei=- (17.01.2014 00:42, просмотров: 133) ответил st256 на Т.е. другими словами нет никакой пропорциональной зависимости между между толщиной технологии и радиационной стойкостью? Ну тогда я как и обещал, пасую, чтобы избежать базара. Ибо не Вы, ни я не являемся здесь профессионалами. По ЦОС я бы с Вами
Чем тоньше процесс - тем лучше он переносит ионизацию вызванную радиацией. КМОП 65 нм это 100-300 крад накопленной дозы - а это много. например 180 нм кмоп - это 100 крад. Но кроме радиации в космосе есть факторы от ТЗЧ , элекроннов итп. И тут обратная картина, вероятность сбоев и тиристора наоборот увеличивается. Но они могут быть парированы схемотехнически. Сбои - троированием, ЕСС. А тиристор - контролем тока потребления, всякими охранными кольцами или технологией КНИ. Но последнее время появились статьи, что ТЗЧ не будут вызывать сбоев в схемах с нормами 22 нм КНИ. Там активная область кремния настолько мала, что при проходе через нее частицы не выделится достаточного заряда для сбоя. Так что 22 нм - до 1 Мрад, сбои минимизированы (ниаких троирований и прочих избыточностей), а КНИ защищает от тиристора - мечта для космоса.