caxapa.ru :: Не знаю, обоснованно ли делать тест внутреннего ОЗУ

Aлeкceй Mycин (11.02.2004 08:43, просмотров: 1) ответил BMФ на Посоветуйте, как в EWAVR правильно организовать тест ОЗУ.

Не знаю, обоснованно ли делать тест внутреннего ОЗУ а вот внешнее точно стоит, потому что она паяется :). Я делал для фуджиков: 1 Стек - во внутреннем ОЗУ. 2 Тест внеш ОЗУ. Если не прошел, то for (;;) светодиодик_ON. 3 Стек во внеш ОЗУ. 4 Мэйн. Там правил startup.asm, в ИАРе есть startup.s90. Изначально он общий, но можно скопировать в проект и его поправить, в доке на ИАР я это видел где-то.

- А зачем вообще стек тесту ? - SM(11.02.2004 08:48)
  - В тесте используются локальные переменные Aлeкceй Mycин(135 знак., 11.02.2004 12:16)
    - Я просто не пробовал писать тесты на С... IMHO тесты по максимуму SM(250 знак., 11.02.2004 15:21)
      - А можно поподробнее про тест регистров и команд? Алексей Мусин(133 знак., 12.02.2004 07:35)
        
        Ответ: SM(905 знак., 12.02.2004 16:36)
        
        Да, а случаев (полно) SM(152 знак., 12.02.2004 16:37)
        
        Солидно Алексей Мусин(215 знак., 13.02.2004 08:05)
        
        Во первых SM(455 знак., 13.02.2004 10:34)
        
        в себестоимости МСХ до 70% - тесты(от пластины до девайса) причём последние - самые дорогие(первые-групповые, последние - каждое изделие) - =mse=(13.02.2004 11:57)
        
        Не угадал SM(650 знак., 13.02.2004 12:19)
        
        ну да, как-же ;О) а толщину плёнок, глубину диффузии, толщину и проводимость эпитаксиальных слоёв, подвижность носителей.......... на каждый кристалл тоже? ;О). На каждой пластине есть 4-10 тестовых областей на которых в процессе производства пластины про =mse=(210 знак., 14.02.2004 11:55)
        
        Дык это не те тесты, о которых тут речь :) - SM(16.02.2004 08:59)

Микроконтроллеры