-
- В тесте используются локальные переменные Aлeкceй Mycин(135 знак., 11.02.2004 12:16)
- Я просто не пробовал писать тесты на С... IMHO тесты по максимуму SM(250 знак., 11.02.2004 15:21)
- А можно поподробнее про тест регистров и команд? Алексей Мусин(133 знак., 12.02.2004 07:35)
- Ответ: SM(905 знак., 12.02.2004 16:36)
- Да, а случаев (полно) SM(152 знак., 12.02.2004 16:37)
- Солидно Алексей Мусин(215 знак., 13.02.2004 08:05)
- Во первых SM(455 знак., 13.02.2004 10:34)
- в себестоимости МСХ до 70% - тесты(от пластины до девайса) причём последние - самые дорогие(первые-групповые, последние - каждое изделие) - =mse=(13.02.2004 11:57)
- Не угадал SM(650 знак., 13.02.2004 12:19)
- ну да, как-же ;О) а толщину плёнок, глубину диффузии, толщину и проводимость эпитаксиальных слоёв, подвижность носителей.......... на каждый кристалл тоже? ;О). На каждой пластине есть 4-10 тестовых областей на которых в процессе производства пластины про =mse=(210 знак., 14.02.2004 11:55)
- Дык это не те тесты, о которых тут речь :) - SM(16.02.2004 08:59)
- ну да, как-же ;О) а толщину плёнок, глубину диффузии, толщину и проводимость эпитаксиальных слоёв, подвижность носителей.......... на каждый кристалл тоже? ;О). На каждой пластине есть 4-10 тестовых областей на которых в процессе производства пластины про =mse=(210 знак., 14.02.2004 11:55)
- Не угадал SM(650 знак., 13.02.2004 12:19)
- в себестоимости МСХ до 70% - тесты(от пластины до девайса) причём последние - самые дорогие(первые-групповые, последние - каждое изделие) - =mse=(13.02.2004 11:57)
- Во первых SM(455 знак., 13.02.2004 10:34)
- Солидно Алексей Мусин(215 знак., 13.02.2004 08:05)
- Да, а случаев (полно) SM(152 знак., 12.02.2004 16:37)
- Ответ: SM(905 знак., 12.02.2004 16:36)
- А можно поподробнее про тест регистров и команд? Алексей Мусин(133 знак., 12.02.2004 07:35)
- Я просто не пробовал писать тесты на С... IMHO тесты по максимуму SM(250 знак., 11.02.2004 15:21)
- В тесте используются локальные переменные Aлeкceй Mycин(135 знак., 11.02.2004 12:16)