caxapa.ru :: Интересно посмотреть, как эти параметры деградируют на уровне платы. Компук из RAD750 -> Radiation-hardness – Total dose: >100 Krad (Si) – SEU: 1.9 E-4 errors/card-day не хило так 6 порядков растеряли.

Evgeny_CD, Архитектор (25.01.2010 15:52, просмотров: 140) ответил Evgeny_CD на "Не все йогурты одинаково полезны". -> Атмеловская инкарнация LEON2-FT 1.0.13. --> BAE процык RAD750

Интересно посмотреть, как эти параметры деградируют на уровне платы. Компук из RAD750 -> Radiation-hardness – Total dose: >100 Krad (Si) – SEU: 1.9 E-4 errors/card-day не хило так 6 порядков растеряли. http://www.baesystems.com/BAEProd/groups/public/@businesses/@eandis/documents/bae_publication/bae_pdf_eis_rad750_3ucomp_pci.pdf

Ответить

- Это вполне ебстественно. Массив из нескольких плат ещё несколько порядков SEU потеряет. - Shura(25.01.2010 15:57)
  - Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо... - Evgeny_CD(25.01.2010 16:18)
    - Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
      - Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
        
        А зачем все одновременно тестировать? Можно спокойно по частям протестить и просчитать потом суммарную вероятность. - Shura(25.01.2010 16:35)
        
        Я как представил себе сложность программы, которая проверяет монотонность счета всех таймеров (не перескочили ли они какое состояние), правильность всех регистров UART (а вот этот флаг ошибки - он по делу взвелся или нет) и т.д. - чет даже понять не Evgeny_CD(27 знак., 25.01.2010 17:09)
        
        Да там как правило довольно тупые программы, которые просто пишут определенные значения в ОЗУ и SFR а потом сличают их в цикле. - Shura(25.01.2010 17:24)

Средства и методы разработки