-
- Интересно посмотреть, как эти параметры деградируют на уровне платы. Компук из RAD750 -> Radiation-hardness – Total dose: >100 Krad (Si) – SEU: 1.9 E-4 errors/card-day не хило так 6 порядков растеряли. - Evgeny_CD(25.01.2010 15:52, ссылка)
- Это вполне ебстественно. Массив из нескольких плат ещё несколько порядков SEU потеряет. - Shura(25.01.2010 15:57)
- Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо... - Evgeny_CD(25.01.2010 16:18)
- Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
- Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
- А зачем все одновременно тестировать? Можно спокойно по частям протестить и просчитать потом суммарную вероятность. - Shura(25.01.2010 16:35)
- Чем и как херачат - понятно. Вопрос в том, как биты ищуть. Как создать комлекс тестирования, который одновременно тестирует ВСЕ блоки чипа? В реальности из-за сбойнувшего бита программа завалится не со 100% вероятностью. - Evgeny_CD(25.01.2010 16:31)
- Бомбят ионными пушками, нейтронными источниками или ещё какой-нибудь злоебучей штукой. - Shura(25.01.2010 16:24)
- Интересно, как это измеряют? Этот глюкнувший бит еще найти на кристалле надо... - Evgeny_CD(25.01.2010 16:18)
- Это вполне ебстественно. Массив из нескольких плат ещё несколько порядков SEU потеряет. - Shura(25.01.2010 15:57)
- Атмел в своем духе :) -> Супер-пупер космический процик забажили по полной программе :) - Evgeny_CD(25.01.2010 15:39, ссылка)
- 60 КРад это фигня, примерно такой же порядок выдерживают и другие (чего не скажешь об 1М). А SEU это Single event upset, сбой единичного бита. - Shura(25.01.2010 15:35)
- Разница в вероятности сбоя единичного бита 5 порядков внушает... - Evgeny_CD(25.01.2010 15:49)
- Интересно посмотреть, как эти параметры деградируют на уровне платы. Компук из RAD750 -> Radiation-hardness – Total dose: >100 Krad (Si) – SEU: 1.9 E-4 errors/card-day не хило так 6 порядков растеряли. - Evgeny_CD(25.01.2010 15:52, ссылка)