Средства и методы разработки

Я не настолько глубоко разбираюсь в внутренней кухне чипов. Фраза выглядит так: The 3.3 V digital I/O buffers on the device exhibit accelerated aging under use conditions with heavy switching activity. In a typical use case, the EMIFB clock pin (EMB_CLK) may be impacted due to the high switching rate and may eventually lead to SDRAM-related failures. Обещают, что за 0.7 года наступит каюк. Пофикшено в ревизии 3 чипа