Механизм "износа" eeprom памяти в большинстве случаев представляет
собой неустранимый charge trapping на плавающем затворе
транзистора. Т.е. проводится попытка erase, а на затворе все равно
присутствует заряд. Таким образом, механизм "износа" обратен -
нестираемый '0'. Если присутствует утечка, то это не износ, это
дефект производста. Ячейка или не может быть запрограммирована, или
вскорости теряет свое состояние с '0' на '1'. Неустранимый со
временем заряд возникает в подзатворном диэлектрике SiO2 (если не используется другой) и это болезнь всех eeprom. Macronix еще в 2012 предлагала конструкцию памяти где ячейки самовосстанавливаются отжигаясь теплом, увеличив циклы памяти с 10тыс до 100млн.
RxTx (18.11.2021 20:37, просмотров: 262) ответил BlackMorda на Граммар-наци негодует: затвор не течет, а падает сопротивление
изоляции затвора. Как результат со временем нолики превращаются в
единички.